詳細摘要: 在線測量的解決方案使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚
產(chǎn)品型號:所在地:上海更新時間:2026-07-20 在線留言岱美儀器技術服務(上海)有限公司
詳細摘要: 1、簡述FR-InLine是一款模塊化可擴展的在線薄膜厚度測量儀(膜厚儀),可進行在線非接觸測量3nm-1mm厚度范圍內的涂層
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產(chǎn)品型號:所在地:上海更新時間:2026-07-20 在線留言詳細摘要: 1、FR-Scanner-AIO-Mic-XY200介紹模塊化厚度測繪系統(tǒng)平臺,集成了光學、電子和機械模塊,用于表征圖案化薄膜光學參數(shù)
產(chǎn)品型號:所在地:上海更新時間:2026-07-20 在線留言詳細摘要: 自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)依靠F50*的光譜測量系統(tǒng),可以很簡單快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖
產(chǎn)品型號:所在地:上海更新時間:2026-07-20 在線留言詳細摘要: 滿足薄膜厚度范圍從15nm到3mm的*厚度測試系統(tǒng)F3-sX家族利用光譜反射原理,可以測試眾多半導體及電解層的厚度,可測厚度達3毫米
產(chǎn)品型號:所在地:上海更新時間:2026-07-20 在線留言詳細摘要: 自動化薄膜測繪FilmetricsF54系列的產(chǎn)品能以一個電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度,樣品直徑達450...
產(chǎn)品型號:所在地:上海更新時間:2026-07-20 在線留言詳細摘要: 同步測量薄膜的反射率/穿透率不需要費時改變硬件配置,F(xiàn)10-RT僅需要透過單擊滑鼠就能夠同時收集反射與透射光譜,不到一秒鐘的時間,陣列的光譜儀就可以快速的收集到...
產(chǎn)品型號:所在地:上海更新時間:2026-07-20 在線留言詳細摘要: 比色光析管架2路比色光析管支架,可容納10毫米光程長度的矩形比色管(3.5毫升體積),用于吸光度/透射率測量
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